SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Soenen Hilde)
 

Sökning: WFRF:(Soenen Hilde) > (2020-2023) > Structural and chem...

  • Lu, XiaohuNynas AB, Sweden (författare)

Structural and chemical imaging analysis of bitumen

  • Artikel/kapitelEngelska2021

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2019-09-03
  • Taylor and Francis Ltd.2021
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:ri-39930
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ri:diva-39930URI
  • https://doi.org/10.1080/14680629.2019.1661274DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • Microstructures of bitumen surfaces (both air-cooled and fractured) were imaged by atomic force microscopy (AFM) and chemically characterised by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS). For certain air-cooled bitumen surfaces, bee structures were observed by AFM, and chemical explanation by wax crystallisation was confirmed by TOF-SIMS analysis. Unlike the air-cooled surfaces, the fracture surfaces generally did not show clear structure patterns. Furthermore, TOF-SIMS analysis was conducted on the tube-like or worm structures which were generated by environmental scanning electron microscopy (ESEM) on the bitumen surfaces. In general, very small chemical differences were observed between the structured and unstructured areas, as well as between different areas of the structure. To understand the formation of the ESEM structures, possible contributing factors were examined, from which a mechanism involving electron-induced heating was proposed.

Ämnesord och genrebeteckningar

  • AFM
  • bitumen
  • ESEM
  • microstructure
  • TOF-SIMS
  • wax
  • Atomic force microscopy
  • Bituminous materials
  • Cooling systems
  • Organic polymers
  • Scanning electron microscopy
  • Secondary ion mass spectrometry
  • Waxes
  • Contributing factor
  • Environmental scanning electron microscopies (ESEM)
  • Fracture surfaces
  • Time of flight secondary ion mass spectrometry
  • ToF SIMS
  • TOF-SIMS analysis
  • Chemical analysis

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Sjövall, PeterRISE,Kemi och material(Swepub:ri)PeterS@ri.se (författare)
  • Soenen, HildeNynas NV, Belgium (författare)
  • Blom, JohanAntwerp University, Belgium (författare)
  • Andersson, MartinRISE,Yta, process och formulering (författare)
  • Nynas AB, SwedenKemi och material (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:International Journal on Road Materials and Pavement Design: Taylor and Francis Ltd.22:4, s. 852-8701468-06292164-7402

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Lu, Xiaohu
Sjövall, Peter
Soenen, Hilde
Blom, Johan
Andersson, Marti ...
Artiklar i publikationen
International Jo ...
Av lärosätet
RISE

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy