WFRF:(Rossnagel S.)
Sökning: WFRF:(Rossnagel S.) > Morphological stabi...
Morphological stability and specific resistivity of sub-10 nm silicide films of Ni1-xPtx on Si substrate
-
- Zhen, Zhang, 1979- (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
-
- Zhang, Shi-Li (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik
- Yang, B. (författare)
- visa fler...
- Zhu, Y. (författare)
- Rossnagel, S. (författare)
- Gaudet, S. (författare)
- Kellock, A. (författare)
- Jordan-Sweet, Jean (författare)
- Lavoie, C. (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2010
- 2010
- Engelska.
- Ingår i: Applied Physics Letters. - 0003-6951 .- 1077-3118. ; 96, s. 071915-
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Hitta via bibliotek
- Applied Physics Letters (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Zhen, Zhang, 197 ...
- Zhang, Shi-Li
- Yang, B.
- Zhu, Y.
- Rossnagel, S.
- Gaudet, S.
- visa fler...
- Kellock, A.
- Jordan-Sweet, Je ...
- Lavoie, C.
- visa färre...
- Artiklar i publikationen
- Applied Physics ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
