WFRF:(Warnicke Peter)
Sökning: WFRF:(Warnicke Peter) > ToF-SIMS depth prof...
ToF-SIMS depth profiling of (Ga,Mn)As capped with amorphous arsenic: Effects of annealing time
- Bexell, U (författare)
- Stanciu, V (författare)
-
- Warnicke, Peter (författare)
- Uppsala universitet,Fasta tillståndets fysik
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2006
- 2006
- Engelska.
- Ingår i: Applied Surface Science. ; 252:19, s. 7252-4
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Hitta via bibliotek
- Applied Surface Science (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Bexell, U
- Stanciu, V
- Warnicke, Peter
- Östh, Michael
- Svedlindh, Peter
- Artiklar i publikationen
- Applied Surface ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
