SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Madhukar A)
 

Sökning: WFRF:(Madhukar A) > Dislocation emissio...

Dislocation emission at the silicon/silicon nitride interface: A million atom molecular dynamics simulation on parallel computers

Bachlechner, ME (författare)
Uppsala universitet,Neutronforskningslaboratoriet i Studsvik
Omeltchenko, A (författare)
Nakano, A (författare)
visa fler...
Kalia, RK (författare)
Vashishta, P (författare)
Ebbsjo, I (författare)
Madhukar, A (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
AMERICAN PHYSICAL SOC, 2000
2000
Engelska.
Ingår i: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - : AMERICAN PHYSICAL SOC. - 0031-9007. ; 84:2, s. 322-325
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Mechanical behavior of the Si(111)/Si3N4(0001) interface is studied using million atom molecular dynamics simulations, At a critical value of applied strain parallel to the interface, a crack forms on the silicon nitride surface and moves toward the inter

Nyckelord

SILICON-NITRIDE; FIRST-PRINCIPLES; FRACTURE; FILMS

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy