SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Walsh A. P.)
 

Sökning: WFRF:(Walsh A. P.) > (2000-2004) > Large-scale atomist...

Large-scale atomistic modeling of nanoelectronic structures

Nakano, A (författare)
Uppsala universitet,Neutronforskningslaboratoriet i Studsvik
Bachlechner, ME (författare)
Branicio, P (författare)
visa fler...
Campbell, TJ (författare)
Ebbsjo, I (författare)
Kalia, RK (författare)
Madhukar, A (författare)
Ogata, S (författare)
Omeltchenko, A (författare)
Rino, JP (författare)
Shimojo, F (författare)
Walsh, P (författare)
Vashishta, P (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 2000
2000
Engelska.
Ingår i: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - : IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC. - 0018-9383. ; 47:10, s. 1804-1810
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Large-scale molecular-dynamics simulations are performed on parallel computers to study critical issues on ultrathin dielectric films and device reliability in nest decade semiconductor devices, New interatomic-potential models based on many-body, reactiv

Nyckelord

dielectric films; nanotechnology; parallel algorithms; semiconductor defects; stress; MOLECULAR-DYNAMICS SIMULATIONS; ELECTRONIC-STRUCTURE; MECHANICAL-BEHAVIOR; PARALLEL COMPUTERS; SILICON-NITRIDE; FILMS; MORPHOLOGY; INTERFACES; POTENTIALS; GAAS

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy