SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Schikora D.)
 

Sökning: WFRF:(Schikora D.) > Electrical resistiv...

Electrical resistivity and band-gap shift of Si-doped GaN and metal-nonmetal transition in cubic GaN, InN and AlN systems

Fernandez, JRL (författare)
Uppsala universitet,Fysiska institutionen
Araujo, CM (författare)
da, Silva AF (författare)
visa fler...
Leite, JR (författare)
Sernelius, BE (författare)
Tabata, A (författare)
Abramof, E (författare)
Chitta, VA (författare)
Persson, C (författare)
Ahuja, R (författare)
Pepe, I (författare)
As, DJ (författare)
Frey, T (författare)
Schikora, D (författare)
Lischka, K (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
ELSEVIER SCIENCE BV, 2001
2001
Engelska.
Ingår i: JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH. - : ELSEVIER SCIENCE BV. - 0022-0248. ; 231:3, s. 420-427
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • The critical impurity concentration N-c of the metal-nonmetal (MNM) transition for the cubic GaN, InN and AIN systems. is calculated using the following two different criteria: vanishing of the donor binding energy and the crossing point between the energ

Nyckelord

characterization; doping; molecular beam epitaxy; nitrides; SEMICONDUCTORS; SI-P;BI; DEVICES; DONOR; GAAS

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy