WFRF:(Kish LB)
Sökning: WFRF:(Kish LB) > Noise in nanotechno...
- 11 av 20
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Noise in nanotechnology
-
- Kish, LB (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,SOLID STATE PHYSICS
- Granqvist, CG (författare)
- (creator_code:org_t)
- PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, 2000
- 2000
- Engelska.
- Ingår i: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - : PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD. - 0026-2714. ; 40:11, s. 1833-1837
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The length scales dominating physical phenomena in nanotechnology are at the boundary of the macroscopic and microscopic world. Nanoobject formation is governed by a competition between deterministic and random forces. Therefore, classical physical noise
Nyckelord
- LOGNORMAL SIZE DISTRIBUTIONS; GROWTH-PROCESSES; NANOPARTICLES; ORIGIN
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- MICROELECTRONICS RELIABILITY (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 11 av 20
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Kish, LB
- Granqvist, CG
- Artiklar i publikationen
- MICROELECTRONICS ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
