SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Extended search

WFRF:(Stolt Lars)
 

Search: WFRF:(Stolt Lars) > (2000-2004) > Growth of Coevapora...

Growth of Coevaporated Cu(In,Ga)Se2 - The Influence of Rate Profiles on Film Morphology

Bodegård, Marika (author)
Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
Kessler, John (author)
Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
Lundberg, Olle (author)
Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
show more...
Schöldström, Jens (author)
Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
Stolt, Lars (author)
Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
show less...
 (creator_code:org_t)
2001
2001
English.
In: Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 668, H2.2.1-H2.2.12.
  • Conference paper (peer-reviewed)
Subject headings
Close  

Subject headings

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Keyword

Electronics
Elektronik

Publication and Content Type

ref (subject category)
kon (subject category)

To the university's database

Find more in SwePub

By the author/editor
Bodegård, Marika
Kessler, John
Lundberg, Olle
Schöldström, Jen ...
Stolt, Lars
About the subject
ENGINEERING AND TECHNOLOGY
ENGINEERING AND ...
and Electrical Engin ...
and Other Electrical ...
Articles in the publication
By the university
Uppsala University

Search outside SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Close

Copy and save the link in order to return to this view