SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Igalson M)
 

Sökning: WFRF:(Igalson M) > The ”defected layer...

The ”defected layer” and the mechanism of the interface-related metastable behavior in the ZnO/CdS/Cu(In,Ga)Se2 devices

Igalson, M (författare)
Bodegård, Marika (författare)
Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
Stolt, Lars (författare)
Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
visa fler...
Jasenek, A (författare)
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2003
2003
Engelska.
Ingår i: Thin Solid Films. ; 431-432, s. 153-157
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Electronics
Elektronik

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Igalson, M
Bodegård, Marika
Stolt, Lars
Jasenek, A
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
och Annan elektrotek ...
Artiklar i publikationen
Av lärosätet
Uppsala universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy