SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

L773:0040 6090
 

Sökning: L773:0040 6090 > (1990-1999) > Non-destructive che...

Non-destructive chemical analysis of sandwich structures by means of soft X-ray emission

Galnander, B (författare)
Uppsala universitet
Kaambre, T (författare)
Uppsala universitet
Blomquist, P (författare)
Uppsala universitet
visa fler...
Nilsson, E (författare)
Uppsala universitet
Guo, J (författare)
Uppsala universitet
Rubensson, JE (författare)
Uppsala universitet
Nordgren, J (författare)
Uppsala universitet
visa färre...
 (creator_code:org_t)
ELSEVIER SCIENCE SA, 1999
1999
Engelska.
Ingår i: THIN SOLID FILMS. - : ELSEVIER SCIENCE SA. - 0040-6090. ; 344, s. 35-38
  • Tidskriftsartikel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Soft X-ray emission spectroscopy provides information about elemental composition, including the light elements, as well as the chemical bonding. The probe depth reaches hundreds of nanometers but under certain conditions considerable surface sensitivity

Nyckelord

X-ray emission; depth profiling; multilayers; sputtering; FLUORESCENCE SPECTROSCOPY; TRANSMISSION; ABSORPTION; SCATTERING; REFLECTION; OXIDATION

Publikations- och innehållstyp

vet (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy