SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Singh R)
 

Sökning: WFRF:(Singh R) > (1995-1999) > Soft x-ray emission...

Soft x-ray emission studies of the bulk electronic structure of AlN, GaN, and Al0.5Ga0.5N

Smith, KE (författare)
Uppsala universitet
Duda, LC (författare)
Uppsala universitet
Stagarescu, CB (författare)
Uppsala universitet
visa fler...
Downes, J (författare)
Uppsala universitet
Korakakis, D (författare)
Uppsala universitet
Singh, R (författare)
Uppsala universitet
Moustakas, TD (författare)
Uppsala universitet
Guo, JH (författare)
Uppsala universitet
Nordgren, J (författare)
Uppsala universitet
visa färre...
 (creator_code:org_t)
AMER INST PHYSICS, 1998
1998
Engelska.
Ingår i: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B. - : AMER INST PHYSICS. - 1071-1023. ; 16:4, s. 2250-2253
  • Tidskriftsartikel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • The electronic structure of wurtzite GaN, Al0.5Ga0.5N, and AlN has been studied using synchrotron radiation excited soft x-ray emission spectroscopy. In particular, the elementally resolved partial densities of states has been measured and found to agree

Nyckelord

PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; WURTZITE GAN; FILMS; ALXGA1-XN; GROWTH; GAN(0001)-(1X1)

Publikations- och innehållstyp

vet (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy