WFRF:(Kish LB)
Sökning: WFRF:(Kish LB) > Thermal effects on ...
- 16 av 20
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Thermal effects on the electrical degradation of thin film resistors
-
- Pennetta, C (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap
- Reggiani, L (författare)
- Kish, LB (författare)
- (creator_code:org_t)
- ELSEVIER SCIENCE BV, 1999
- 1999
- Engelska.
- Ingår i: PHYSICA A. - : ELSEVIER SCIENCE BV. - 0378-4371. ; 266:1-4, s. 214-217
- Tidskriftsartikel (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Recently we introduced a biased percolation model to study the electrical failure of thin-film resistors. Here we extend this model by allowing thermal interactions among first neighbour elemental resistances and accounting for the dependence of each elem
Nyckelord
- percolation models; 1/f electrical noise; thin film failure; BIASED PERCOLATION; 1/F NOISE; ELECTROMIGRATION; BREAKDOWN
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
- 16 av 20
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Pennetta, C
- Reggiani, L
- Kish, LB
- Artiklar i publikationen
- PHYSICA A
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
