Imaging Atomic Scale Dynamics on III-V Nanowire Surfaces during Electrical Operation

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: WFRF:(Hjort R) > (2015-2019) > Imaging Atomic Scal...

Webb, J. L.Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH (författare)

Imaging Atomic Scale Dynamics on III-V Nanowire Surfaces during Electrical Operation

Artikel/kapitelEngelska2017

Förlag, utgivningsår, omfång ...

2017-10-06
Springer Science and Business Media LLC,2017

Nummerbeteckningar

LIBRIS-ID:oai:lup.lub.lu.se:bbc025f7-df61-4016-bd37-eac3a5ef69a6
https://lup.lub.lu.se/record/bbc025f7-df61-4016-bd37-eac3a5ef69a6URI
https://doi.org/10.1038/s41598-017-13007-wDOI

Kompletterande språkuppgifter

Språk:engelska
Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

SwePubSwePub

Klassifikation

Ämneskategori:art swepub-publicationtype
Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

As semiconductor electronics keep shrinking, functionality depends on individual atomic scale surface and interface features that may change as voltages are applied. In this work we demonstrate a novel device platform that allows scanning tunneling microscopy (STM) imaging with atomic scale resolution across a device simultaneously with full electrical operation. The platform presents a significant step forward as it allows STM to be performed everywhere on the device surface and high temperature processing in reactive gases of the complete device. We demonstrate the new method through proof of principle measurements on both InAs and GaAs nanowire devices with variable biases up to 4 V. On InAs nanowires we observe a surprising removal of atomic defects and smoothing of the surface morphology under applied bias, in contrast to the expected increase in defects and electromigration-related failure. As we use only standard fabrication and scanning instrumentation our concept is widely applicable and opens up the possibility of fundamental investigations of device surface reliability as well as new electronic functionality based on restructuring during operation.

Ämnesord och genrebeteckningar

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Nanoteknik Nanoteknik hsv//swe
ENGINEERING AND TECHNOLOGY Nano-technology Nano-technology hsv//eng
NATURVETENSKAP Fysik Den kondenserade materiens fysik hsv//swe
NATURAL SCIENCES Physical Sciences Condensed Matter Physics hsv//eng

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

Knutsson, J.Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-jak (författare)
Hjort, M.Lund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-mkr (författare)
McKibbin, S. R.Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-srm (författare)
Lehmann, S.Lund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-sil (författare)
Thelander, C.Lund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-cth (författare)
Dick, K. A.Lund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-kdi (författare)
Timm, R.Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-ret (författare)
Mikkelsen, A.Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)slju-ami (författare)
SynkrotronljusfysikFysiska institutionen (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

Ingår i:Scientific Reports: Springer Science and Business Media LLC7:12045-2322

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Scientific Reports (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Webb, J. L.; Knutsson, J.; Hjort, M.; McKibbin, S. R.; Lehmann, S.; Thelander, C.; visa fler...; Dick, K. A.; Timm, R.; Mikkelsen, A.; visa färre...

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Nanoteknik; och Nanoteknik

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Fysik; och Den kondenserade ...

Artiklar i publikationen: Scientific Repor ...

Av lärosätet: Lunds universitet

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se