WFRF:(Szargan R)
Sökning: WFRF:(Szargan R) > Thickness dependenc...
Thickness dependence of photoemission and X-ray fluorescence spectra in epitaxial NiO layers on Ag(100)
- Krasnikov, S. A. (författare)
-
- Preobrajenski, Alexei (författare)
- Lund University,Lunds universitet,MAX IV-laboratoriet,MAX IV Laboratory
- Chasse, T. (författare)
- visa fler...
- Szargan, R. (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2003
- 2003
- Engelska.
- Ingår i: Thin Solid Films. - 0040-6090. ; 428, s. 201-205
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Krasnikov, S. A.
- Preobrajenski, A ...
- Chasse, T.
- Szargan, R.
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Fysik
- Artiklar i publikationen
- Thin Solid Films
- Av lärosätet
- Lunds universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
