SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

hsv:(ENGINEERING AND TECHNOLOGY) hsv:(Other Engineering and Technologies)
 

Sökning: hsv:(ENGINEERING AND TECHNOLOGY) hsv:(Other Engineering and Technologies) > Charging phenomena ...

  • Engström, Olof,1943Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology (författare)

Charging phenomena at the interface between high-k dielectrics and SiOx interlayers

  • Artikel/kapitelEngelska2009

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2009

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:041f3a59-0ba1-425a-b322-bb2e72d358ac
  • https://research.chalmers.se/publication/98503URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Raeissi, Bahman,1979Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)raeissin (författare)
  • Piscator, Johan,1977Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)e8johanp (författare)
  • Mitrovic, I. Z. (författare)
  • Hall, S. (författare)
  • Gottlob, H. D. B. (författare)
  • Schmidt, M. (författare)
  • Hurley, P.K. (författare)
  • Cherkaoui, K. (författare)
  • Chalmers tekniska högskola (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:8th Symposium Diagnostics & Yield Advanced Silicon Devices and Technologies for the ULSI Era, Warsaw, June 22 - 24, 2009 (Invited)

Internetlänk

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy