SwePub
Tyck till om SwePub Sök här!
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Charpentier Sophie 1983)
 

Sökning: WFRF:(Charpentier Sophie 1983) > Express Optical Ana...

Express Optical Analysis of Epitaxial Graphene on SiC: Impact of Morphology on Quantum Transport

Yager, Thomas, 1987 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Lartsev, Arseniy, 1987 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
Mahashabde, Sumedh, 1985 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
visa fler...
Charpentier, Sophie, 1983 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
Davidovikj, Dejan, 1988 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
Danilov, Andrey, 1961 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
Yakimova, Rositza (författare)
Linköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan
Panchal, V. (författare)
Royal Holloway University of London,National Physical Laboratory (NPL),National Physical Laboratory, Teddington, UK
Kazakova, O. (författare)
National Physical Laboratory (NPL),National Physical Laboratory, Teddington, UK
Tzalenchuk, A.Y. (författare)
National Physical Laboratory (NPL),Royal Holloway University of London,National Physical Laboratory, Teddington, UK
Lara Avila, Samuel, 1983 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
Kubatkin, Sergey, 1959 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
Yager, Tom (författare)
Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2013-08-14
2013
Engelska.
Ingår i: Nano Letters. - : American Chemical Society (ACS). - 1530-6992 .- 1530-6984. ; 13:9, s. 4217-4223
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • We show that inspection with an optical microscope allows surprisingly simple and accurate identification of single and multilayer graphene domains in epitaxial graphene on silicon carbide (SiC/G) and is informative about nanoscopic details of the SiC topography, making it ideal for rapid and noninvasive quality control of as-grown SiC/G. As an illustration of the power of the method, we apply it to demonstrate the correlations between graphene morphology and its electronic properties by quantum magneto-transport.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Nanoteknik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Nano-technology (hsv//eng)

Nyckelord

REIBL N
graphene
OPTICS COMMUNICATIONS
LAYER GRAPHENE
SINGLE-LAYER
V49
electron transport
optical microscopy
P6
graphene characterization
PHASE
TRANSISTORS
Epitaxial graphene
SIO2
1984

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy