Direct observation of lateral carrier diffusion in ridge waveguide 1.3 um GaInNAs-GaAs lasers using scanning near-field optical microscopy

Adolfsson, Göran,1981Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology (författare)

Scanning near-field optical microscopy measurements of the lateral spontaneous emission profile for narrow ridge waveguide 1.3 um GaInNAs-GaAs lasers reveal significant lateral carrier diffusion, which can explain the high characteristic temperature of the threshold current.

Wang, Shu Min,1963Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)shumin (författare)
Sadeghi, Mahdad,1964Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)mahdad (författare)
Bengtsson, Jörgen,1968Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)jorgenb (författare)
Larsson, Anders,1957Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)andersla (författare)
Lim, JunUniversity Of Nottingham (författare)
Vilokkinen, VilleModulight, Inc. (författare)
Melanen, P.Modulight, Inc. (författare)
Chalmers tekniska högskolaUniversity Of Nottingham (creator_code:org_t)

Ingår i:21st IEEE International Semiconductor Laser Conference, ISLC 2008; Sorrento; Italy; 14 September 2008 through 18 September 2008, s. 55-560899-94069781424417834

Av författaren/redakt...: Adolfsson, Göran ...; Wang, Shu Min, 1 ...; Sadeghi, Mahdad, ...; Bengtsson, Jörge ...; Larsson, Anders, ...; Lim, Jun; visa fler...; Vilokkinen, Vill ...; Melanen, P.; visa färre...

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Elektroteknik oc ...; och Telekommunikatio ...

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.