onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:13a495de-6b97-4258-b330-e924f93a0552"
Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:13a495de-6b97-4258-b330-e924f93a0552" > Thickness measureme...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Thickness measurement of small particles in TEM with EELS, CBED and EFTEM
-
- Yao, Yiming, 1957 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Thölén, Anders, 1938 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- (creator_code:org_t)
- 2002
- 2002
- Engelska.
- Ingår i: Proceedings of ICEM-15 Durban 2002, 15th International Congress of Electron Microscopy, Durban South Africa, 1-6 September 2002. ; , s. 469-470
- Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Materialteknik -- Annan materialteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Materials Engineering -- Other Materials Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Yao, Yiming, 195 ...
- Thölén, Anders, ...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Materialteknik
- och Annan materialte ...
- Artiklar i publikationen
- Proceedings of I ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
