onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0"
Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0" > Hotspot test struct...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
- Jeppson, Kjell,1947Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology (författare)
Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders
- Artikel/kapitelEngelska2016
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- 2016
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0
- https://doi.org/10.1109/ICMTS.2016.7476169DOI
- https://research.chalmers.se/publication/231937URI
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
- Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
- SwePubSwePub
Klassifikation
Anmärkningar
- The design, fabrication, and use of a hotspot-producing and temperature-sensing test structure for evaluating the thermal properties of carbon nanotubes, graphene and boron nitride for cooling of electronic devices in applications like 3D integrated chip-stacks, power amplifiers and light-emitting diodes is described. The test structure is a simple meander-shaped metal resistor serving both as the hotspot and the temperature thermo-meter. By use of this test structure, the influence of emerging materials like those mentioned above on the temperature of the hotspot has been evaluated with good accuracy).
Ämnesord och genrebeteckningar
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Elektroteknik och elektronik hsv//swe
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering hsv//eng
- test structures
- resistance temperature detectors
- hotspots
- graphene
- heat spreaders
- boron nitride
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Bao, JieChalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University (författare)
- Huang, S.Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University (författare)
- Zhang, Yong,1982Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)yongz (författare)
- Sun, Shuangxi,1986Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)shuangxi (författare)
- Fu, Yifeng,1984Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)yifeng (författare)
- Liu, Johan,1960Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)jliu (författare)
- Chalmers tekniska högskolaShanghai University (creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
- Ingår i:29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama, Japan, Mar 28-31, 2016, s. 32-361071-9032
Internetlänk
Hitta via bibliotek
- 29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Y... (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Jeppson, Kjell, ...
- Bao, Jie
- Huang, S.
- Zhang, Yong, 198 ...
- Sun, Shuangxi, 1 ...
- Fu, Yifeng, 1984
- visa fler...
- Liu, Johan, 1960
- visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
- 29th IEEE Intern ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
