SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:research.chalmers.se:4f0a4428-2ae3-4cc4-8cb9-57b2b2d8114b"
 

Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:4f0a4428-2ae3-4cc4-8cb9-57b2b2d8114b" > Noise and Aliasing ...

  • Sonerud, Björn,1979Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology (författare)

Noise and Aliasing Aspects in a Multiharmonic-Dielectric-Response-Measurement System

  • Artikel/kapitelEngelska2011

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2011

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:4f0a4428-2ae3-4cc4-8cb9-57b2b2d8114b
  • https://doi.org/10.1109/TIM.2011.2147570DOI
  • https://research.chalmers.se/publication/148367URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

  • Dielectric-response measurements are commonly performed with frequency-domain spectroscopy, polarization/depolarization-current measurements, or return-voltage measurements. These techniques operate in a frequency or time domain, and all have high requirements on the voltage source in order to acquire accurate results. This limits dielectric-response measurements to offline applications. A new technique, which is called arbitrary-waveform- impedance spectroscopy, has been developed, which makes use of the harmonics of any voltage waveform to perform dielectric-response measurements. The technique provides possibilities for online measurements facilitating the monitoring of materials and components in high-voltage applications. Here, the different aspects of the measurement system are presented, including circuit modeling, normalization, and discussions on aliasing and noise; all of them are necessary to control in order to perform accurate measurements. © 2011 IEEE.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Bengtsson, Tord,1954ABB(Swepub:cth)tordb (författare)
  • Blennow, Jörgen,1966Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)blennow (författare)
  • Gubanski, Stanislaw,1950Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)staszek (författare)
  • Chalmers tekniska högskolaABB (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement60:13, s. 3875-38821557-96620018-9456

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy