SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Ottosson Jonas)
 

Sökning: WFRF:(Ottosson Jonas) > Thermo-Mechanical S...

  • Brinkfeldt, KlasRISE,IVF (författare)

Thermo-Mechanical Simulations of SiC Power Modules with Single and Double Sided Cooling

  • Artikel/kapitelEngelska2015

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.2015
  • electronicrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:735bef97-a369-4073-b7b4-e4affebe3fe8
  • ISBN:9781479999491
  • https://doi.org/10.1109/EuroSimE.2015.7103136DOI
  • https://research.chalmers.se/publication/226257URI
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ri:diva-13395URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

  • Effectively removing dissipated heat from the switching devices enables a higher current carrying capability per chip area ratio, thus leading to smaller or fewer devices for a given power requirement specification. Further, the use of SiC based devices has proven to increase the efficiency of the system thereby reducing the dissipated heat. Thermal models have been used to compare SiC power modules. Single and double sided cooling have been simulated. The simulated maximum temperatures were 141 °C for the single sided version and 119.7 °C for the double sided version. In addition, the reliability of a single sided module and thermally induced plastic strains of a double sided module have been investigated. A local model of the wire bond interface to the transistor metallization shows a 30/00 maximum increase in plastic strain during the power cycle. Simulations of the creep strain rates in the die attach solder layer for a power cycling loads also shows a 30/00 increase in creep strain per cycle.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Edwards, Michael,1986Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Sweden(Swepub:cth)micedw (författare)
  • Ottosson, JonasVolvo Group,Volvo Group Truck Technology, Sweden (författare)
  • Neumaier, KlausFairchild Semiconductor GmbH, Germany (författare)
  • Zschieschang, OlafFairchild Semiconductor GmbH, Germany (författare)
  • Otto, AlexanderFraunhofer-Institut fur Elektronische Nanosysteme,Fraunhofer ENAS, Germany (författare)
  • Kaulfersch, EberhardBerliner Nanotest und Design GmbH,Berliner Nanotest und Design GmbH, Germany (författare)
  • Andersson, DagRISE,IVF(Swepub:ri)dagan@ri.se (författare)
  • RISEIVF (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:16th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2015: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., s. 1 - 797814799994919781479999507

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy