SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Ericsson Per)
 

Sökning: WFRF:(Ericsson Per) > Wafer Bonding Induc...

Wafer Bonding Induced Degradation Of Thermal Silicon Dioxide Layers On Silicon

Afanasev, V. V. (författare)
Ericsson, Per, 1968 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
Bengtsson, Stefan, 1961 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
visa fler...
Andersson, Mats O., 1963 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
visa färre...
 (creator_code:org_t)
1995
1995
Engelska.
Ingår i: Applied Physics Letters. ; 66:13, s. 1653-1655
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Afanasev, V. V.
Ericsson, Per, 1 ...
Bengtsson, Stefa ...
Andersson, Mats ...
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
och Annan elektrotek ...
Artiklar i publikationen
Av lärosätet
Chalmers tekniska högskola

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy