Sökning: (WFRF:(Pa M.)) > (1980-1989) > Influence of silico...
Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 00932naa a2200253 4500 | |
001 | oai:DiVA.org:uu-258272 | |
003 | SwePub | |
008 | 150713s1988 | |||||||||||000 ||eng| | |
024 | 7 | a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-2582722 URI |
040 | a (SwePub)uu | |
041 | a eng | |
042 | 9 SwePub | |
072 | 7 | a ref2 swepub-contenttype |
072 | 7 | a art2 swepub-publicationtype |
100 | 1 | a Nylander, JO4 aut |
245 | 1 0 | a Influence of silicon-sapphire interface defects on SOS MESFET beavior |
264 | 1 | c 1988 |
338 | a print2 rdacarrier | |
700 | 1 | a Magnusson, U4 aut |
700 | 1 | a Rosling, M4 aut |
700 | 1 | a Tove, PAu Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut |
710 | 2 | a Uppsala universitetb Fasta tillståndets elektronik4 org |
773 | 0 | t Solid-State Electronicsg 31:10, s. 1493-1496q 31:10<1493-1496x 0038-1101x 1879-2405 |
856 | 4 8 | u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-258272 |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.