Quantitative assessment of EMCD signals in real and reciprocal space in single and multilayer samples

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-196692" > Quantitative assess...

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		02952naa a2200529 4500
001		oai:DiVA.org:uu-196692
003		SwePub
008		130313s2012 \| \|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 \|\|eng\|
024	7	a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-1966922 URI
040		a (SwePub)uu
041		a eng
042		9 SwePub
072	7	a ref2 swepub-contenttype
072	7	a kon2 swepub-publicationtype
100	1	a Leifer, Klausu Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap,Electron Microscopy and Nanoengineering4 aut0 (Swepub:uu)kllei839
245	1 0	a Quantitative assessment of EMCD signals in real and reciprocal space in single and multilayer samples
264	1	c 2012
338		a print2 rdacarrier
500		a Research partially supported through research grant number 1G2009-2017 from The Swedish Foundation for International Cooperation in Research and Higher Education (STINT)
650	7	a TEKNIK OCH TEKNOLOGIERx Nanoteknik0 (SwePub)2102 hsv//swe
650	7	a ENGINEERING AND TECHNOLOGYx Nano-technology0 (SwePub)2102 hsv//eng
650	7	a NATURVETENSKAPx Fysik0 (SwePub)1032 hsv//swe
650	7	a NATURAL SCIENCESx Physical Sciences0 (SwePub)1032 hsv//eng
653		a Nanoscale magnetism
653		a Superlattice
653		a Multilayer
653		a EMCD
653		a TEM
653		a Microscopy
653		a EELS
653		a Interface
653		a Teknisk fysik med inriktning mot nanoteknologi och funktionella material
653		a Engineering Science with specialization in Nanotechnology and Functional Materials
653		a Engineering Science with specialization in Materials Analysis
653		a Teknisk fysik med inriktning mot materialanalys
653		a Engineering Science with specialization in Materials Science
653		a Teknisk fysik med inriktning mot materialvetenskap
700	1	a Rubino, Stefanou Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap,Electron Microscopy and Nanoengineering4 aut0 (Swepub:uu)steru726
700	1	a Rusz, Janu Uppsala universitet,Materialteori4 aut0 (Swepub:uu)janru887
700	1	a Thersleff, Thomas,d 1980-u Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap,Materials in Medicine4 aut0 (Swepub:uu)thoth499
700	1	a Lidbaum, Hansu Uppsala universitet,Tillämpad materialvetenskap,Electron Microscopy and Nanoengineering4 aut0 (Swepub:uu)halie957
700	1	a Hjörvarsson, Björgvinu Uppsala universitet,Materialfysik4 aut0 (Swepub:uu)bjorghvs
700	1	a Oppeneer, Peteru Uppsala universitet,Materialteori4 aut0 (Swepub:uu)peopp623
700	1	a Eriksson, Olleu Uppsala universitet,Materialteori4 aut0 (Swepub:uu)olleerik
710	2	a Uppsala universitetb Tillämpad materialvetenskap4 org
773	0	t Proceedings of the 15th European Microscopy Congress: Volume 2: Physical Sciences: Tools and Techniquesg , s. 727-728q <727-728z 9780950246369
856	4 8	u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-196692

Hitta via bibliotek

Proceedings of the 15th European Microscopy Congress: Volume 2: Physical Science... (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Leifer, Klaus; Rubino, Stefano; Rusz, Jan; Thersleff, Thoma ...; Lidbaum, Hans; Hjörvarsson, Bjö ...; visa fler...; Oppeneer, Peter; Eriksson, Olle; visa färre...

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Nanoteknik

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Fysik

Artiklar i publikationen: Proceedings of t ...

Av lärosätet: Uppsala universitet

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se