Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84668" >
Ellipsometry on spu...
-
Isidorsson, JUppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap
(författare)
Ellipsometry on sputter-deposited tin oxide films: optical constants versus stoichiometry, hydrogen content, and amount of electrochemically intercalated lithium
- Artikel/kapitelEngelska1998
Förlag, utgivningsår, omfång ...
-
OPTICAL SOC AMER,1998
-
printrdacarrier
Nummerbeteckningar
-
LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:uu-84668
-
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-84668URI
Kompletterande språkuppgifter
-
Språk:engelska
-
Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
Klassifikation
-
Ämneskategori:ref swepub-contenttype
-
Ämneskategori:art swepub-publicationtype
Anmärkningar
-
Addresses: Isidorsson J, Univ Uppsala, Angstrom Lab, Dept Mat Sci, POB 534, S-75121 Uppsala, Sweden. Univ Uppsala, Angstrom Lab, Dept Mat Sci, S-75121 Uppsala, Sweden. Univ Calif Berkeley, Lawrence Berkeley Lab, Berkeley, CA 94720 USA.
-
Tin oxide thin films were deposited by reactive radio-frequency magnetron sputtering onto In2O3:Sn-coated and bare glass substrates. Optical constants in the 300-2500-nm wavelength range were determined by a combination of variable-angle spectroscopi
Ämnesord och genrebeteckningar
-
ATOMIC-FORCE MICROSCOPY; EFFECTIVE-MEDIUM MODELS; SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY; TRANSPARENT ELECTRODES; SURFACE-ROUGHNESS; SN OXIDE; ELECTROCHROMISM; REFLECTANCE; CAPACITY; INDEXES
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
Granqvist, CG
(författare)
-
von, Rottkay K
(författare)
-
Rubin, M
(författare)
-
Uppsala universitetInstitutionen för materialvetenskap
(creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
-
Ingår i:APPLIED OPTICS: OPTICAL SOC AMER37:31, s. 7334-73410003-6935
Internetlänk
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas