Comparing Hall Effect and Field Effect Measurements on the Same Single Nanowire

Hultin, OlofLund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH (författare)

We compare and discuss the two most commonly used electrical characterization techniques for nanowires (NWs). In a novel single-NW device, we combine Hall effect and back-gated and top-gated field effect measurements and quantify the carrier concentrations in a series of sulfur-doped InP NWs. The carrier concentrations from Hall effect and field effect measurements are found to correlate well when using the analysis methods described in this work. This shows that NWs can be accurately characterized with available electrical methods, an important result toward better understanding of semiconductor NW doping.

Otnes, GauteLund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-goe (författare)
Borgström, MagnusLund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-mbo (författare)
Bjork, Mikael (författare)
Samuelson, LarsLund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-lsa (författare)
Storm, KristianLund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-ktn (författare)
Fasta tillståndets fysikFysiska institutionen (creator_code:org_t)

Ingår i:Nano Letters: American Chemical Society (ACS)16:1, s. 205-2111530-69921530-6984

Av författaren/redakt...: Hultin, Olof; Otnes, Gaute; Borgström, Magnu ...; Bjork, Mikael; Samuelson, Lars; Storm, Kristian

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Nanoteknik; och Nanoteknik

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.