Sökning: id:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:99564106-9802-4028-97e4-ec7b86bee26f" >
Current−Voltage Cha...
Current−Voltage Characterization of Individual As-Grown Nanowires Using a Scanning Tunneling Microscope
-
- Timm, Rainer (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Persson, Olof (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
Engberg, David (författare)
-
visa fler...
-
Fian, Alexander (författare)
-
- Webb, James (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Wallentin, Jesper (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
Jönsson, Andreas (författare)
-
- Borgström, Magnus (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Samuelson, Lars (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Mikkelsen, Anders (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2013-10-02
- 2013
- Engelska.
-
Ingår i: Nano Letters. - : American Chemical Society (ACS). - 1530-6992 .- 1530-6984. ; 13:11, s. 5182-5189
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10... (free)
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://lup.lub.lu.s...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Utilizing semiconductor nanowires for (opto)- electronics requires exact knowledge of their current−voltage properties. We report accurate on-top imaging and I−V characterization of individual as-grown nanowires, using a subnanometer resolution scanning tunneling microscope with no need for additional microscopy tools, thus allowing versatile application. We form Ohmic contacts to InP and InAs nanowires without any sample processing, followed by quantitative measurements of diameter dependent I−V properties with a very small spread in measured values compared to standard techniques.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Nanoteknik -- Nanoteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Nano-technology -- Nano-technology (hsv//eng)
Nyckelord
- semiconductor nanowire
- scanning tunneling microscopy
- Ohmic contact
- nanowire contacts
- resistivity
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Timm, Rainer
-
Persson, Olof
-
Engberg, David
-
Fian, Alexander
-
Webb, James
-
Wallentin, Jespe ...
-
visa fler...
-
Jönsson, Andreas
-
Borgström, Magnu ...
-
Samuelson, Lars
-
Mikkelsen, Ander ...
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Nanoteknik
-
och Nanoteknik
- Artiklar i publikationen
-
Nano Letters
- Av lärosätet
-
Lunds universitet