SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-258177"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-258177" > Flying-spot scannin...

LIBRIS Formathandbok  (Information om MARC21)
FältnamnIndikatorerMetadata
00000959naa a2200253 4500
001oai:DiVA.org:uu-258177
003SwePub
008150710s1986 | |||||||||||000 ||eng|
024a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-2581772 URI
040 a (SwePub)uu
041 a eng
042 9 SwePub
072 7a ref2 swepub-contenttype
072 7a art2 swepub-publicationtype
100a Bleichner, H4 aut
2451 0a Flying-spot scanning for the separate mapping of resistivity and minority-cariier lifetime in silicon
264 1c 1986
338 a print2 rdacarrier
700a Nordlander, E4 aut
700a Fiedler, G4 aut
700a Tove, PAu Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut
710a Uppsala universitetb Fasta tillståndets elektronik4 org
773t Solid-State Electronicsg 29:8, s. 779-786q 29:8<779-786x 0038-1101x 1879-2405
8564 8u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-258177

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Bleichner, H
Nordlander, E
Fiedler, G
Tove, PA
Artiklar i publikationen
Solid-State Elec ...
Av lärosätet
Uppsala universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy