onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-45707"
Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-45707" >
- 1 av
- Föregående post
- Till träfflistan
Electrical Characterization of AlN MIS and MIM Structures
-
- Engelmark, Fredrik (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
-
- Westlinder, Jörgen (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik,Institutionen för teknikvetenskaper
-
- Iriarte Fuentes, Gonzalo (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,Elektronik,Fasta tillståndets elektronik
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2003
- Engelska.
- Ingår i: IEEE Trans Electron Devices. ; 50:5, s. 1214-1219
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Electronics
- Elektronik
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Till lärosätets databas
- 1 av
- Föregående post
- Till träfflistan
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
