Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84668" >
Ellipsometry on spu...
Ellipsometry on sputter-deposited tin oxide films: optical constants versus stoichiometry, hydrogen content, and amount of electrochemically intercalated lithium
-
- Isidorsson, J (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap
-
Granqvist, CG (författare)
-
von, Rottkay K (författare)
-
visa fler...
-
Rubin, M (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- OPTICAL SOC AMER, 1998
- 1998
- Engelska.
-
Ingår i: APPLIED OPTICS. - : OPTICAL SOC AMER. - 0003-6935. ; 37:31, s. 7334-7341
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Tin oxide thin films were deposited by reactive radio-frequency magnetron sputtering onto In2O3:Sn-coated and bare glass substrates. Optical constants in the 300-2500-nm wavelength range were determined by a combination of variable-angle spectroscopi
Nyckelord
- ATOMIC-FORCE MICROSCOPY; EFFECTIVE-MEDIUM MODELS; SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY; TRANSPARENT ELECTRODES; SURFACE-ROUGHNESS; SN OXIDE; ELECTROCHROMISM; REFLECTANCE; CAPACITY; INDEXES
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas