Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0" > Hotspot test struct...

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		02925naa a2200421 4500
001		oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0
003		SwePub
008		171008s2016 \| \|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 \|\|eng\|
024	7	a https://doi.org/10.1109/ICMTS.2016.74761692 DOI
024	7	a https://research.chalmers.se/publication/2319372 URI
040		a (SwePub)cth
041		a engb eng
042		9 SwePub
072	7	a kon2 swepub-publicationtype
072	7	a ref2 swepub-contenttype
100	1	a Jeppson, Kjell,d 1947u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology4 aut0 (Swepub:cth)jeppson
245	1 0	a Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders
264	1	c 2016
520		a The design, fabrication, and use of a hotspot-producing and temperature-sensing test structure for evaluating the thermal properties of carbon nanotubes, graphene and boron nitride for cooling of electronic devices in applications like 3D integrated chip-stacks, power amplifiers and light-emitting diodes is described. The test structure is a simple meander-shaped metal resistor serving both as the hotspot and the temperature thermo-meter. By use of this test structure, the influence of emerging materials like those mentioned above on the temperature of the hotspot has been evaluated with good accuracy).
650	7	a TEKNIK OCH TEKNOLOGIERx Elektroteknik och elektronik0 (SwePub)2022 hsv//swe
650	7	a ENGINEERING AND TECHNOLOGYx Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering0 (SwePub)2022 hsv//eng
653		a test structures
653		a resistance temperature detectors
653		a hotspots
653		a graphene
653		a heat spreaders
653		a boron nitride
700	1	a Bao, Jieu Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University4 aut
700	1	a Huang, S.u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University4 aut
700	1	a Zhang, Yong,d 1982u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology4 aut0 (Swepub:cth)yongz
700	1	a Sun, Shuangxi,d 1986u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology4 aut0 (Swepub:cth)shuangxi
700	1	a Fu, Yifeng,d 1984u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology4 aut0 (Swepub:cth)yifeng
700	1	a Liu, Johan,d 1960u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology4 aut0 (Swepub:cth)jliu
710	2	a Chalmers tekniska högskolab Shanghai University4 org
773	0	t 29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama, Japan, Mar 28-31, 2016g , s. 32-36q <32-36x 1071-9032
856	4	u http://dx.doi.org/10.1109/ICMTS.2016.7476169y FULLTEXT
856	4 8	u https://doi.org/10.1109/ICMTS.2016.7476169
856	4 8	u https://research.chalmers.se/publication/231937

Hitta via bibliotek

29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Y... (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Jeppson, Kjell, ...; Bao, Jie; Huang, S.; Zhang, Yong, 198 ...; Sun, Shuangxi, 1 ...; Fu, Yifeng, 1984; visa fler...; Liu, Johan, 1960; visa färre...

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Elektroteknik oc ...

Artiklar i publikationen: 29th IEEE Intern ...

Av lärosätet: Chalmers tekniska högskola

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se