Sökning: WFRF:(Fan Zhang)
> (2005-2009) >
Surface morphology,...
Surface morphology, structural and optical properties of polar and non-polar ZnO thin films : A comparative study
-
- Deng, R. (författare)
- Jilin University
-
- Yao, B. (författare)
- Jilin University
-
- Li, Y.F. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
visa fler...
-
- Li, B.H. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Zhang, Z.Z. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Zhao, H.F. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Zhang, J.Y. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Zhao, D.X. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Shen, D.Z. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Fan, X.W. (författare)
- Changchun Institute of Optics
-
- Yang, Li Li (författare)
- Linköpings universitet,Institutionen för teknik och naturvetenskap,Tekniska högskolan
-
- Zhao, Qingxiang (författare)
- Linköpings universitet,Institutionen för teknik och naturvetenskap,Tekniska högskolan
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- Elsevier BV, 2009
- 2009
- Engelska.
-
Ingår i: Journal of Crystal Growth. - : Elsevier BV. - 0022-0248. ; 311:19, s. 4398-4401
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The polar and non-polar ZnO thin films were fabricated on cubic MgO (1 1 1) and (0 0 1) substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy. Based on X-ray diffraction analysis, the ZnO thin films grown on MgO (1 1 1) and (1 0 0) substrates exhibit the polar c-plane and non-polar m-plane orientation, respectively. Comparing with the c-plane ZnO film, the non-polar m-plane ZnO film shows cross-hatched stripes-like morphology, lower surface roughness and slower growth rate. However, low-temperature photoluminescence measurement indicates the m-plane ZnO film has a stronger 3.31 eV emission, which is considered to be related to stacking faults. Meanwhile, stronger band tails absorbance of the m-plane ZnO film is observed in optical absorption spectrum.
Nyckelord
- A1. Atomic force microscopy; A1. X-ray diffraction; A3. Molecular beam epitaxy; Al. Photoluminescence; B1. Zinc oxide
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Deng, R.
-
Yao, B.
-
Li, Y.F.
-
Li, B.H.
-
Zhang, Z.Z.
-
Zhao, H.F.
-
visa fler...
-
Zhang, J.Y.
-
Zhao, D.X.
-
Shen, D.Z.
-
Fan, X.W.
-
Yang, Li Li
-
Zhao, Qingxiang
-
visa färre...
- Artiklar i publikationen
-
Journal of Cryst ...
- Av lärosätet
-
Linköpings universitet