Characterization of deep level defects in sublimation grown p-type 6H-SiC epilayers by deep level transient spectroscopy

In this study deep level transient spectroscopy has been performed on boron-nitrogen co-doped 6H-SiC epilayers exhibiting p-type conductivity with free carrier concentration (N-A-N-D)similar to 3 x 10(17) cm(-3). We observed a hole H-1 majority carrier and an electron E-1 minority carrier traps in the device having activation energies E-nu + 0.24 eV, E-c -0.41 eV, respectively. The capture cross-section and trap concentration of H-1 and E-1 levels were found to be (5 x 10(-19) cm(2), 2 x 10(15) cm(-3)) and (1.6 x 10(-16) cm(2), 3 x 10(15) cm(-3)), respectively. Owing to the background involvement of aluminum in growth reactor and comparison of the obtained data with the literature, the H-1 defect was identified as aluminum acceptor. A reasonable justification has been given to correlate the E-1 defect to a nitrogen donor.

Iqbal, F.Islamia University of Bahawalpur, Pakistan (författare)
Faraz, SadiaLinköpings universitet,Institutionen för fysik, kemi och biologi,Tekniska högskolan(Swepub:liu)sadfa20 (författare)
Jokubavicius, ValdasLinköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan(Swepub:liu)valjo12 (författare)
Wahab, QamarLinköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan(Swepub:liu)qamwa17 (författare)
Syväjärvi, MikaelLinköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan(Swepub:liu)miksy08 (författare)
Islamia University of Bahawalpur, PakistanInstitutionen för fysik, kemi och biologi (creator_code:org_t)

Av författaren/redakt...: Asghar, M.; Iqbal, F.; Faraz, Sadia; Jokubavicius, Va ...; Wahab, Qamar; Syväjärvi, Mikae ...

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.