SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Öberg Johnny)
 

Sökning: WFRF:(Öberg Johnny) > (2020-2024) > AnoDe :

  • Rajkumar, TrishnaKTH,Elektronik och inbyggda system (författare)

AnoDe : A Log-based Self-Supervised Framework to Detect Scrubber Failures in SRAM-FPGA

  • Artikel/kapitelEngelska2022

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),2022
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:kth-326863
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-326863URI
  • https://doi.org/10.1109/PRDC55274.2022.00030DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • QC 20230515
  • SRAM-FPGAs used in radiative environment are integrated with a scrubber to protect the configuration memory from radiation effects. Any malfunctions in the scrubber degrades the reliability of the system and can have catastrophic consequences in critical applications. Existing solutions for a reliable scrubber focus on masking or detecting the scrubber errors through redundant modules implemented in the FPGA. While these approaches improve the overall reliability, they are not completely radiation-proof owing to their implementation on FPGA. In order to improve the scrubber reliability, a complementary scheme external to the FPGA is required. Based on this consideration, we propose AnoDe, a failure detection framework running on a supervisory processor external to the FPGA board. AnoDe leverages the logs generated by the scrubber to detect failures in real-time using an Autoencoder network. AnoDe provides a self-supervised solution right from generating the labelled training data to dynamically adapting to the prevailing radiation conditions. We evaluated the effectiveness of our approach on a Xilinx Ultrascale+ MPSoC ZCU104 board using fault injection. The results demonstrated a detection performance comparable to that of a custom approach with an F1 score of 0.85 for single bit upsets and 0.93 for multi bit upsets. Overall, the proposed approach could reduce the scrubber SEU sensitivity from 6 % to 1 %.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Öberg, JohnnyKTH,Elektronik och inbyggda system(Swepub:kth)u1t0l5al (författare)
  • KTHElektronik och inbyggda system (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:2022 IEEE 27TH PACIFIC RIM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEPENDABLE COMPUTING (PRDC): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), s. 164-171

Internetlänk

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Rajkumar, Trishn ...
Öberg, Johnny
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
Artiklar i publikationen
Av lärosätet
Kungliga Tekniska Högskolan

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy