WFRF:(Arwinge Olof)
Sökning: WFRF:(Arwinge Olof) > Total Internal Refl...
Total Internal Reflection Ellipsometry : a tool for analysis of ultrathin films on metal surfaces
-
- Arwin, Hans, 1950- (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Tillämpad optik
-
- Poksinski, Michal, 1976- (författare)
- Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Tillämpad optik
- (creator_code:org_t)
- 2006
- 2006
- Engelska.
- Ingår i: 4th Workshop Ellipsometry,2006.
- Konferensbidrag (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Ämnesord
Stäng
Nyckelord
- NATURAL SCIENCES
- NATURVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Arwin, Hans, 195 ...
- Poksinski, Micha ...
- Artiklar i publikationen
- 4th Workshop Ell ...
- Av lärosätet
- Linköpings universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
