SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Haralson Erik)
 

Sökning: WFRF:(Haralson Erik) > As- or P-doped Si l...

LIBRIS Formathandbok  (Information om MARC21)
FältnamnIndikatorerMetadata
00002670naa a2200349 4500
001oai:DiVA.org:kth-23235
003SwePub
008100810s2004 | |||||||||||000 ||eng|
024a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-232352 URI
024a https://doi.org/10.1088/0031-8949/2004/T114/0072 DOI
040 a (SwePub)kth
041 a engb eng
042 9 SwePub
072 7a ref2 swepub-contenttype
072 7a art2 swepub-publicationtype
100a Suvar, Erdalu KTH,Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT4 aut0 (Swepub:kth)u1sxan4r
2451 0a As- or P-doped Si layers grown by RPCVD for emitter application in SiGeCHBTs
264 1c 2004
338 a print2 rdacarrier
500 a QC 20100525 QC 20111031
520 a A new module for the emitter formation in a bipolar transistor is presented. Arsenic- or phosphorus-doped polycrystalline silicon layer for the emitter formation is deposited in a reduced pressure chemical vapor deposition reactor using silane as the silicon source gas. Characteristics such as the carrier concentration, conductivity, surface morphology, and thermal stability of the polycrystalline-silicon layer as well as the influence this layer has on a SiGeC transistor structure during the drive-in step area studied. The active carrier concentration of the as-grown sample is strongly dependent on the deposition temperature, especially arsenic doped layers which exhibit more than one order of magnitude difference. However, the carrier concentration for the As- or P-doped layer were comparable to that of a standard in-situ doped poly-crystalline layer after a dopant activation at 925 degrees C for 10s.
650 7a TEKNIK OCH TEKNOLOGIERx Elektroteknik och elektronik0 (SwePub)2022 hsv//swe
650 7a ENGINEERING AND TECHNOLOGYx Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering0 (SwePub)2022 hsv//eng
653 a chemical-vapor-deposition
700a Haralson, Eriku KTH,Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT4 aut0 (Swepub:kth)u1bz5891
700a Hållstedt, Juliusu KTH,Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT4 aut0 (Swepub:kth)u15ztfu4
700a Radamson, Henry H.u KTH,Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT4 aut0 (Swepub:kth)u1g2cqgr
700a Östling, Mikaelu KTH,Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT4 aut0 (Swepub:kth)u1u0kle4
710a KTHb Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT4 org
773t Physica Scriptag T114, s. 34-36q T114<34-36x 0031-8949x 1402-4896
8564 8u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-23235
8564 8u https://doi.org/10.1088/0031-8949/2004/T114/007

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy