WFRF:(Sanz Velasco Anke 1971)
Sökning: WFRF:(Sanz Velasco Anke 1971) > Method for measurin...
Method for measuring fracture toughness of wafer-bonded interfaces with high spatial resolution
-
- Bring, Martin, 1977 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Enoksson, Peter, 1957 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Sanz-Velasco, Anke, 1971 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
- (creator_code:org_t)
- ISBN 9163192802
- 2006
- 2006
- Engelska.
- Ingår i: proceeding of Eurosensors XX. - 9163192802
- Konferensbidrag (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- proceeding of Eurosensors XX (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Bring, Martin, 1 ...
- Enoksson, Peter, ...
- Sanz-Velasco, An ...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
- och Annan elektrotek ...
- Artiklar i publikationen
- proceeding of Eu ...
- Proceedings of M ...
- Av lärosätet
- Chalmers tekniska högskola
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
