SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Ottosson Tomas)
 

Sökning: WFRF:(Ottosson Tomas) > Direct current magn...

Direct current magnetron sputtering deposition of nanocomposite alumina – zirconia thin films

Trinh, David Huy, 1981- (författare)
Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
Kubart, Tomas (författare)
Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik,Department of Solid State Electronics, The Ångström Laboratory, Uppsala University, Uppsala, Sweden
Nyberg, Tomas (författare)
Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik,Department of Solid State Electronics, The Ångström Laboratory, Uppsala University, Uppsala, Sweden
visa fler...
Ottosson, M (författare)
Department of Solid State Electronics, The Ångström Laboratory, Uppsala University, Uppsala, Sweden
Hultman, Lars (författare)
Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
Högberg, Hans (författare)
Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Elsevier BV, 2008
2008
Engelska.
Ingår i: Thin Solid Films. - : Elsevier BV. - 0040-6090 .- 1879-2731. ; 516:23, s. 8352-8358
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Mixed aluminium oxide-zirconium oxide thin solid films have been synthesized at similar to 300 degrees C by reactive direct current magnetron sputtering from two targets. Partial pressure control of the oxygen gas ensured stoichiometric films without compromising the deposition rate. The composition of the films ranged from pure alumina to pure zirconia as measured by X-ray photoelectron spectroscopy. Microstructural characterisation showed that the pure zirconium oxide films nucleated initially as the tetragonal zirconia phase, while the 100/010/001 textured monoclinic zirconia phase grew under steady-state conditions with a columnar structure. Addition of aluminiurn to similar to 3 at.% caused the formation of tetragonal zirconia in the films, while further additions led to an amorphous structure as governed by the alumina under the present kinetic limitations.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Alumina
Zirconia
Dual reactive direct current magnetron sputtering
Nanocomposite
X-ray photoelectron spectroscopy
X-ray diffraction
Transmission electron microscopy
Electronics
Elektronik
NATURAL SCIENCES

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy