Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-84645" >
Thermal effects on ...
Thermal effects on the electrical degradation of thin film resistors
-
- Pennetta, C (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap
-
Reggiani, L (författare)
-
Kish, LB (författare)
-
(creator_code:org_t)
- ELSEVIER SCIENCE BV, 1999
- 1999
- Engelska.
-
Ingår i: PHYSICA A. - : ELSEVIER SCIENCE BV. - 0378-4371. ; 266:1-4, s. 214-217
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Recently we introduced a biased percolation model to study the electrical failure of thin-film resistors. Here we extend this model by allowing thermal interactions among first neighbour elemental resistances and accounting for the dependence of each elem
Nyckelord
- percolation models; 1/f electrical noise; thin film failure; BIASED PERCOLATION; 1/F NOISE; ELECTROMIGRATION; BREAKDOWN
Publikations- och innehållstyp
- vet (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas