Microstructural Characterization of Sulfurization Effects in Cu(In,Ga)Se2 Thin Film Solar Cells

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: WFRF:(Thuvander Mattias) > Microstructural Cha...

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		04236naa a2200529 4500
001		oai:research.chalmers.se:d4f9934a-8fef-4039-b5a4-c3ea59164425
003		SwePub
008		190323s2019 \| \|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 \|\|eng\|
009		oai:DiVA.org:uu-385571
024	7	a https://research.chalmers.se/publication/5092942 URI
024	7	a https://doi.org/10.1017/S14319276190001512 DOI
024	7	a https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-3855712 URI
040		a (SwePub)cthd (SwePub)uu
041		a engb eng
042		9 SwePub
072	7	a art2 swepub-publicationtype
072	7	a ref2 swepub-contenttype
100	1	a Aboulfadl, Hishamu Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers Univ Technol, Dept Phys, S-41296 Gothenburg, Sweden4 aut
245	1 0	a Microstructural Characterization of Sulfurization Effects in Cu(In,Ga)Se2 Thin Film Solar Cells
264	1	b CAMBRIDGE UNIV PRESS,c 2019
338		a electronic2 rdacarrier
520		a Surface sulfurization of Cu(In,Ga)Se 2 (CIGSe) absorbers is a commonly applied technique to improve the conversion efficiency of the corresponding solar cells, via increasing the bandgap towards the heterojunction. However, the resulting device performance is understood to be highly dependent on the thermodynamic stability of the chalcogenide structure at the upper region of the absorber. The present investigation provides a high-resolution chemical analysis, using energy dispersive X-ray spectrometry and laser-pulsed atom probe tomography, to determine the sulfur incorporation and chemical re-distribution in the absorber material. The post-sulfurization treatment was performed by exposing the CIGSe surface to elemental sulfur vapor for 20 min at 500°C. Two distinct sulfur-rich phases were found at the surface of the absorber exhibiting a layered structure showing In-rich and Ga-rich zones, respectively. Furthermore, sulfur atoms were found to segregate at the absorber grain boundaries showing concentrations up to ∼7 at% with traces of diffusion outwards into the grain interior.
650	7	a NATURVETENSKAPx Kemix Oorganisk kemi0 (SwePub)104042 hsv//swe
650	7	a NATURAL SCIENCESx Chemical Sciencesx Inorganic Chemistry0 (SwePub)104042 hsv//eng
650	7	a NATURVETENSKAPx Kemix Materialkemi0 (SwePub)104032 hsv//swe
650	7	a NATURAL SCIENCESx Chemical Sciencesx Materials Chemistry0 (SwePub)104032 hsv//eng
650	7	a NATURVETENSKAPx Kemix Annan kemi0 (SwePub)104992 hsv//swe
650	7	a NATURAL SCIENCESx Chemical Sciencesx Other Chemistry Topics0 (SwePub)104992 hsv//eng
650	7	a NATURVETENSKAPx Fysikx Den kondenserade materiens fysik0 (SwePub)103042 hsv//swe
650	7	a NATURAL SCIENCESx Physical Sciencesx Condensed Matter Physics0 (SwePub)103042 hsv//eng
653		a Cu(In,Ga)Se 2
653		a solar cells
653		a surface treatment
653		a atom probe
653		a thin films
700	1	a Keller, Janu Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut0 (Swepub:uu)janke498
700	1	a Larsen, Jes Ku Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut0 (Swepub:uu)jenla503
700	1	a Thuvander, Mattias,d 1968u Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers Univ Technol, Dept Phys, S-41296 Gothenburg, Sweden4 aut0 (Swepub:cth)matthu
700	1	a Riekehr, Larsu Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut0 (Swepub:uu)larri928
700	1	a Edoff, Marika,d 1965-u Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut0 (Swepub:uu)maribode
700	1	a Platzer Björkman, Charlotte,d 1976-u Uppsala universitet,Fasta tillståndets elektronik4 aut0 (Swepub:uu)chpla516
710	2	a Chalmers tekniska högskolab Chalmers Univ Technol, Dept Phys, S-41296 Gothenburg, Sweden4 org
773	0	t Microscopy and Microanalysisd : CAMBRIDGE UNIV PRESSg 25:2, s. 532-538q 25:2<532-538x 1435-8115x 1431-9276
856	4	u https://research.chalmers.se/publication/509294/file/509294_Fulltext.pdfx primaryx freey FULLTEXT
856	4 8	u https://research.chalmers.se/publication/509294
856	4 8	u https://doi.org/10.1017/S1431927619000151
856	4 8	u https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-385571

Hitta via bibliotek

Microscopy and Microanalysis (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Aboulfadl, Hisha ...; Keller, Jan; Larsen, Jes K; Thuvander, Matti ...; Riekehr, Lars; Edoff, Marika, 1 ...; visa fler...; Platzer Björkman ...; visa färre...

Om ämnet

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Kemi; och Oorganisk kemi

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Kemi; och Materialkemi

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Kemi; och Annan kemi

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Fysik; och Den kondenserade ...

Artiklar i publikationen: Microscopy and M ...

Av lärosätet: Chalmers tekniska högskola; Uppsala universitet

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se