Electrical characterization of Nanowires contacted using a FIB

HERNANDEZ, F (författare)

EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

CASALS, O (författare)

EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

VILA, A (författare)

EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

visa fler...

Morante, J.R (författare)

EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

ROMANO-RODRIGUEZEL, ALBERTO (författare)

EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

ABID, M (författare)

EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

Valizadeh, Sima (författare)

Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Experimentell fysik,Materialvetenskap,Elektronmikroskopi och nanoteknologi

Hjort, Klas (författare)

Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Experimentell fysik,Materialvetenskap

visa färre...

 (creator_code:org_t)

2005

2005

Engelska.

Ingår i: microscopy of Semiconducting materials conference.

Relaterad länk:

https://urn.kb.se/re...

• Konferensbidrag (refereegranskat)