On the Effect of Transient Data-Errors in Controller Implementations

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: L773:0743 1619 OR L773:9781424420797 > On the Effect of Tr...

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		02922naa a2200505 4500
001		oai:lup.lub.lu.se:1b9c72f5-23ed-432e-87ef-e1cff9e54dc6
003		SwePub
008		160401s2003 \| \|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 \|\|eng\|
024	7	a https://lup.lub.lu.se/record/5366962 URI
024	7	a https://doi.org/10.1109/ACC.2003.12440592 DOI
040		a (SwePub)lu
041		a engb eng
042		9 SwePub
072	7	a kon2 swepub-publicationtype
072	7	a ref2 swepub-contenttype
100	1	a Gäfvert, Magnusu Lund University,Lunds universitet,Institutionen för reglerteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Automatic Control,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH4 aut0 (Swepub:lu)cont-mga
245	1 0	a On the Effect of Transient Data-Errors in Controller Implementations
264	1	c 2003
338		a electronic2 rdacarrier
520		a Computer-level faults leading to data errors in computations arepredicted to occur increasingly frequent in future microprocessors.This work discusses the impact of such errors on closed-loopperformance in implementations of digital control systems. A method torender a control system more robust to data errors by introducingartificial signal limits and then combine them with an anti-windupscheme is presented and exemplified. Accepted for publication.
650	7	a TEKNIK OCH TEKNOLOGIERx Elektroteknik och elektronikx Reglerteknik0 (SwePub)202022 hsv//swe
650	7	a ENGINEERING AND TECHNOLOGYx Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineeringx Control Engineering0 (SwePub)202022 hsv//eng
653		a digital control system
653		a controller implementation
653		a computer-level faults leading
653		a closed-loop performance
653		a artificial signal limit
653		a antiwindup scheme
653		a fault location
653		a microprocessor chips
653		a digital control
653		a control system synthesis
653		a logic testing
653		a future microprocessor
653		a transient data-error effect
653		a closed loop systems
653		a discrete time systems
700	1	a Wittenmark, Björnu Lund University,Lunds universitet,Institutionen för reglerteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Automatic Control,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH4 aut0 (Swepub:lu)cont-bwi
700	1	a Askerdal, Örjan4 aut
710	2	a Institutionen för reglerteknikb Institutioner vid LTH4 org
773	0	t Proceedings of the 2003 American Control Conference, vols 1-6g 4, s. 3411-3416q 4<3411-3416x 0743-1619z 0780378962
856	4	u https://portal.research.lu.se/files/4384630/625632.pdfx primaryx freey FULLTEXT
856	4	u http://dx.doi.org/10.1109/ACC.2003.1244059y FULLTEXT
856	4 8	u https://lup.lub.lu.se/record/536696
856	4 8	u https://doi.org/10.1109/ACC.2003.1244059

Hitta via bibliotek

Proceedings of the 2003 American Control Conference, vols 1-6 (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Gäfvert, Magnus; Wittenmark, Björ ...; Askerdal, Örjan

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Elektroteknik oc ...; och Reglerteknik

Artiklar i publikationen: Proceedings of t ...

Av lärosätet: Lunds universitet

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se