SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Singh Pratap)
 

Sökning: WFRF:(Singh Pratap) > Analyzing the Impac...

Analyzing the Impact of Die Positions inside the Power Module on the Reliability of Solder Layers for Different Power Cycling Scenarios

Singh, Bhanu Pratap (författare)
KTH,Elkraftteknik
Shirong, Wang (författare)
KTH
Choudhury, Khaled Redwan (författare)
University of Warwick, Coventry, UK
visa fler...
Norrga, Staffan, 1968- (författare)
KTH,Elkraftteknik
Nee, Hans-Peter, 1963- (författare)
KTH,Elkraftteknik
visa färre...
 (creator_code:org_t)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023
2023
Engelska.
Ingår i: 2023 24th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, EuroSimE 2023. - : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).
  • Konferensbidrag (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Solder layers, used as bonding material inside the power module to attach the semiconductor die on Direct Bond Copper (DBC) substrate and DBC substrate on baseplate, are one of the regions most prone to failure. The failure usually occurs in the form of solder cracks and depends on various operating conditions, such as-maximum temperature, temperature swing, and heating time. The cracks generated inside the solder layers can eventually result in its delamination. Power modules are usually power cycled to estimate the failure sites and mechanisms. However, the failure mechanisms can vary depending on the frequency, amplitude, and range of the temperature in the Power Cycling Tests (PCT). In this study, we have used the Finite Element Method (FEM) in COMSOL Multiphysics to analyse the impact of the PCT on both die attach, and baseplate attach solder layers. Additionally, the effect of the degree of asymmetry in the die position on the reliability of both the solder layers are analysed. The FEA (Finite Element Analysis) results are analysed to have a better understanding about the aspects impacting the lifetime of the power module.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

finite element method
lifetime estimation
power cycling
Power module
solder
viscoplasticity

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
kon (ämneskategori)

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Singh, Bhanu Pra ...
Shirong, Wang
Choudhury, Khale ...
Norrga, Staffan, ...
Nee, Hans-Peter, ...
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
och Annan elektrotek ...
Artiklar i publikationen
Av lärosätet
Kungliga Tekniska Högskolan

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy