SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Tungasmita Sukkaneste)
 

Sökning: WFRF:(Tungasmita Sukkaneste) > Defect reduction in...

Defect reduction in HVPE growth of GaN and related optical spectra

Paskova, Tanja (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Institutionen för fysik, kemi och biologi
Paskov, Plamen (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Halvledarmaterial
Darakchieva, Vanya (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Halvledarmaterial
visa fler...
Tungasmita, Sukkaneste (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Institutionen för fysik, kemi och biologi
Birch, Jens (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Tunnfilmsfysik
Monemar, Bo (författare)
Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Halvledarmaterial
visa färre...
 (creator_code:org_t)
2001
2001
Engelska.
Ingår i: Physica status solidi. A, Applied research. - 0031-8965 .- 1521-396X. ; 183:1, s. 197-203
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • GaN technology is still based on highly mismatched heteroepitaxial growth on foreign substrates, and therefore needs to overcome a high defect density and a high level of stress in the epitaxial layers. Various attempts have been made to reduce the defects and stress in thick GaN layers. We here report a reduction of the defect density in thick GaN layers grown by hydride vapour phase epitaxy, using regrowth on free-standing GaN films, as well as introducing an AlN buffer and AlN interlayer in the growth sequence. Special focus is put on the optical properties of the material.

Nyckelord

TECHNOLOGY
TEKNIKVETENSKAP

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy