Monolayer calibration of endofullerenes with x-ray absorption from implanted keV ion doses

Lee, Wei Chuang (författare): Univ Zurich, Phys Inst, CH-8057 Zurich, Switzerland.

Yu, Lebin (författare): Univ Zurich, Phys Inst, CH-8057 Zurich, Switzerland.

Oscarsson, Johan, 1984- (författare): Uppsala universitet,Institutionen för fysik och astronomi

Ochapski, Michal W. (författare): Ist Italiano Tecnol, Graphene Labs, IT-16163 Genoa, Italy.

Sagehashi, Ryunosuke (författare): Univ Zurich, Phys Inst, CH-8057 Zurich, Switzerland.

Zhang, Yang (författare): Leibniz Inst Solid State & Mat Res IFW, D-01069 Dresden, Germany.

Popov, Alexey A. (författare): Leibniz Inst Solid State & Mat Res IFW, D-01069 Dresden, Germany.

Gebeyehu, Zewdu M. (författare): Ist Italiano Tecnol, Graphene Labs, IT-16163 Genoa, Italy.

Martini, Leonardo (författare): Ist Italiano Tecnol, Graphene Labs, IT-16163 Genoa, Italy.

Forti, Stiven (författare): Ist Italiano Tecnol, Graphene Labs, IT-16163 Genoa, Italy.

Coletti, Camilla (författare): Ist Italiano Tecnol, Graphene Labs, IT-16163 Genoa, Italy.

Delley, Bernard (författare): Paul Scherrer Inst PSI, Swiss Light Source, CH-5232 Villigen, Switzerland.

Muntwiler, Matthias (författare): Paul Scherrer Inst PSI, Swiss Light Source, CH-5232 Villigen, Switzerland.

Primetzhofer, Daniel (författare): Uppsala universitet,Institutionen för fysik och astronomi

Greber, Thomas (författare): Univ Zurich, Phys Inst, CH-8057 Zurich, Switzerland.

Univ Zurich, Phys Inst, CH-8057 Zurich, Switzerland Institutionen för fysik och astronomi (creator_code:org_t)

American Institute of Physics (AIP), 2024
2024
Engelska.
Ingår i: Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces, and Films. - : American Institute of Physics (AIP). - 0734-2101 .- 1520-8559. ; 42:2

Relaterad länk:: https://urn.kb.se/re...; visa fler...; https://doi.org/10.1...; visa färre...

Abstract Ämnesord

Stäng

X-ray absorption spectroscopy (XAS) has the highest sensitivity for chemical element detection on surfaces. With this approach, small amounts of lanthanide-containing endofullerene molecules (Ho3N@C80) have been measured by total electron yield at a low flux bending magnet beamline. The monolayer coverage is calibrated by extrapolating the signals of constant doses (3 x 1014 cm-2) of Ho ions implanted into SiO2 with energies between 2 and 115 keV. At room temperature, the Ho XAS spectra of the molecules and implanted ions indicate trivalent but not identical Ho ground states. Still, this approach demonstrates a way for calibration of small coverages of molecules containing open core-shell elements.

Av författaren/redakt...: Lee, Wei Chuang; Yu, Lebin; Oscarsson, Johan ...; Ochapski, Michal ...; Sagehashi, Ryuno ...; Zhang, Yang; visa fler...; Popov, Alexey A.; Gebeyehu, Zewdu ...; Martini, Leonard ...; Forti, Stiven; Coletti, Camilla; Delley, Bernard; Muntwiler, Matth ...; Primetzhofer, Da ...; Greber, Thomas; visa färre...

Om ämnet

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.