SwePub
Tyck till om SwePub Sök här!
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:d65e047c-88ad-47f5-9891-711419b8679a"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:d65e047c-88ad-47f5-9891-711419b8679a" > Thin InAs membranes...

Thin InAs membranes and GaSb buffer layers on GaAs(001) substrates

Astromskas, Gvidas (författare)
Lund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Borg, Mattias (författare)
Lund University,Lunds universitet,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
Wernersson, Lars-Erik (författare)
Lund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH,Solid State Physics,Department of Physics,Faculty of Engineering, LTH
 (creator_code:org_t)
American Vacuum Society, 2012
2012
Engelska.
Ingår i: Journal of Vacuum Science and Technology B. - : American Vacuum Society. - 1520-8567. ; 30:5
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • Thin InAs layers and membranes are fabricated on GaAs substrates using GaSb buffer layers grown by MOVPE. The quality of the GaSb buffer layers is optimized and epitaxial InAs layers are grown on GaSb layers of various thickness. The best GaSb buffer layers are obtained for a nucleation temperature of 450 degrees C and a subsequent growth temperature of 570 degrees C with a V/III ratio of 3, as confirmed by both the structural (high-resolution XRD, AFM) and electrical (Hall) measurements. Furthermore, a clear relationship between the structural quality of the GaSb and InAs layers is established. Finally, free-standing InAs structures are fabricated where Hall measurements reveal a mobility that depends on the film thickness.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
NATURVETENSKAP  -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
NATURAL SCIENCES  -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)

Nyckelord

atomic force microscopy
buffer layers
Hall effect
III-V
semiconductors
indium compounds
MOCVD
nucleation
semiconductor
epitaxial layers
semiconductor growth
vapour phase epitaxial growth
X-ray diffraction

Publikations- och innehållstyp

art (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Astromskas, Gvid ...
Borg, Mattias
Wernersson, Lars ...
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
NATURVETENSKAP
NATURVETENSKAP
och Fysik
och Den kondenserade ...
Artiklar i publikationen
Journal of Vacuu ...
Journal of Vacuu ...
Av lärosätet
Lunds universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy